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Prüfkarten für die Kontaktierung von Halbleitern

Probe Cards

FEIN, FEINER, FEINMETALL.

Prüfkarte in Epoxy-Technologie
Prüfkarte ViProbe

FEINMETALL nimmt heute eine technologische Spitzenposition bei Prüfkarten für die Kontaktierung von Halbleitern ein.

Die unter der Marke ViProbe® angebotenen Vertikalprüfkarten gehören zu den führenden Produkten am Markt. Für die anspruchsvollen Applikationen finden die hochspezialisierten Entwicklungs- und Engineering-Teams neue Lösungen.

ViProbe® Prüfkarten  
Vertikale Kontakttechnologie zur multiplen Kontaktierung von Wafern.

ViProbe®II Prüfkarten  
Vertikale Kontakttechnologie der nächsten Generation mit erhöhter Lebensdauer und anderen Vorteilen.

FeinProbe® Prüfkarten
Prüfkarten mit Federkontaktstiften als Kontaktelemente.

MyProbe® Prüfkarten
Prüfkarten mit Kontaktelementen basieren auf MEMS-Technologie.

LiProbe® Prüfkarten 
Prüfkarte mit Lamella Beams, vorteilhaft vor allem besondere HF-Anwendungen.

BasicProbe Prüfkarten 
Einfache vertikale Prüfkarte für Basis-Anforderungen.

Cantilever Prüfkarten
Kostengünstige und bewährte Lösungen für einfache Prüfaufgaben.

Die Halbleiterindustrie agiert international, deswegen ist FEINMETALL an den wichtigen Standorten präsent: Service- und Fertigungsstandorte in Asien, Europa und USA stellen die Nähe zu unseren Kunden und Märkten sicher.

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