Probe Cards

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FEINMETALL nimmt heute eine technologische Spitzenposition bei Prüfkarten für die Kontaktierung von Halbleitern ein


ViProbe® Prüfkarten

Anpassbar an eine enorme Bandbreite an Anwendungen ist die ViProbe® seit mehr als 25 Jahren eine bewährte buckling beam Technologie, welche vor allem für ihre einzigartig einfache Reparierbarkeit geschätzt wird.

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ViProbe® II Prüfkarten

Neue Version der vertikalen Kontakttechnologie mit Fokus auf erhöhter Lebensdauer und weiteren Vorteilen.

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MµProbe® Prüfkarten

MEMS Kontaktelemente mit Fokus auf Fine Pitch Full Array Anwendungen im Wafer Test.

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LiProbe® Prüfkarten

Prüfkarte mit Lamella Kontaktlelementen, insbesondere geeignet für HF Anwendungen mit einer hohen Designvielfalt.

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FeinProbe® Prüfkarten

Die Kontaktierung von WLCSP-, SiP- oder Flipchip-Wafern erfordert Prüfkarten, die hohen Strömen standhalten und gleichzeitig eine hohe Signalintegrität gewährleisten. Die FeinProbe® adressiert diese Anwendungen mit Bravour.

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