FEINMETALL FeinProbe® Prüfkarte mit Federkontaktstiften als Kontaktelemente.
Die Digitalisierung unseres Lebens ist so ausgeprägt wie noch nie. Die Funktionen moderner Geräte basieren auf Mikrochips mit Strukturgrößen von manchmal nur wenigen Nanometern. Und während die Chips immer kleiner und kompakter integriert werden, nimmt die Fülle der von ihnen zu bewältigenden Aufgaben stetig zu. Eine technologische Herausforderung, der wir uns jeden Tag gerne stellen. Denn wir kümmern uns um die Kontaktierung dieser Mikrochips. Und das in verschiedenen Phasen der Herstellung.
Prüfkarten zur Wafer-Kontaktierung
Bereits in der Produktion von Wafern sind umfangreiche Testprozesse erforderlich. Die Wafer-Kontaktierung erfolgt mit einer Prüfkarte, die individuell auf den Prüfling zugeschnitten ist und zwar hinsichtlich des Chip-Designs, der notwendigen Ströme, Frequenzen, Temperaturen und weiterer Faktoren. Hier kommt High-Tech buchstäblich vom Feinsten zum Einsatz. Und ohne Experten-Wissen geht hier gar nichts.
Auch beim Testen der fertigen Mikrochips ist Kontaktierungstechnik gefragt. In entsprechenden Prüfsockeln werden Feinrasterstifte verbaut, die eine exakte Kontaktierung der Prüfpunkte ermöglichen. FEINMETALL Feinrasterstifte eignen sich für gängige Komponenten wie BGA, LGA, QFP, QFN oder WLCSP. Präzision und 100% Qualitätskontrolle zeichnen diese Stifte aus.
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