Aktuelles > News > SWTW 2018

Wafer Test Workshop

Erfolg auf dem SWTW in San Diego

Vom 03. bis 06. Juni 2018 war FEINMETALL wieder auf dem Semiconductor Wafer Test Workshop (SWTW) in San Diego vertreten - und das mit großem Erfolg!

Bei diesem Workshop treffen sich weltweite Experten, um sich ganz speziell über die technischen Trends und Entwicklungen im Wafer-Test auszutauschen und zu informieren. FEINMETALL ist bei dieser Veranstaltung als "Silver Sponsor" vertreten.

Neben den Präsentationen zur Analyse von sogenannten Pad-Cracks und zu einer neuen Messmethode der Stromtragfähigkeit von Prüfkarten wurden dort auch die neuen Produktlinien FeinProbe® und MµProbe® vorgestellt.

Jory Twitchel, Jerry Broz und Gunther Boehm
Jerry Broz und Matthias Schnaithmann

Auszeichung für FEINMETALL-Vorträge

Der Vortrag von Gunther Böhm und Jory Twitchell (NXP Chandler)  "A Real-Life Pad Crack Study" erhielt den Preis für "Best Data Presentation". mehr

Die Präsentation "A Novel Measurement Method for Measuring CCC and MAC At Once" von Herrn Dr. Schnaithmann hat die Auszeichnung für "Best Presentation Tutorial in Nature" erhalten. mehr

Überreicht wurden die Preise von Jerry Broz, dem Chairman des SWTW.

Alle Präsentationen des Workshops finden Interessierte direkt auf der entsprechenden Seite der Veranstaltung (Link unten), die mit Preisen ausgezeichneten Präsentationen sind unter "Awarded Presentations" zu finden.

SEMICONDUCTOR WAFER TEST WORKSHOP 2018 - PRESENTATIONS