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Feinrasterstifte mit beidseitig gefedertem Kolben

Prüfkarte mit Federkontaktstiften als Kontaktelemente

In der neuen FEINMETALL FeinProbe® werden als Kontaktelemente anstelle von Buckling-Beams sehr feine Federkontaktstifte eingesetzt. Diese Technologie ist ideal zur Kontaktierung von feinen Rastern bei Bump-Anwendungen und wird vor allem für folgende Einsatzgebiete verwendet:

  • WLCSP
  • WLAN
  • RF
  • SiP
  • Analog und Mixed-Signal Flip Chip

 

Die Eigenschaften der Federkontakstifte bieten einige Vorteile für die Chip-Kontaktierung, da sie unabhängig gefedert sind und durch ihre speziellen Kopfformen einen optimalen elektrischen Kontakt zum Prüfling herstellen können.

Die Vorteile auf einen Blick:

  • Stabiler und gleichbleibender Kontaktwiderstand
  • Selbstausrichtende Kolbenspitze
  • Hohe Bandbreite
  • Hohe Stromtragfähigkeit
  • Hohe Federkraft
  • Geringe Beschädigung von Bumps
  • Keine zusätzliche Goldbeschichtung der Kontaktstifte notwendig

 

Spezifikationen

Kontaktelemente X01, X02, X03
Pitch min 350 µm
Kontaktstift-Anzahl bis 5 000
Aktive Fläche bis 60 mm x 60 mm
Temperaturbereich -40°C bis +150°C