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In-Circuit und Funktionstest von Leiterplatten

Feinmetall in der

Industrie-Elektronik.

Kontaktstifte für den ICT/ FCT Test
Prüfkarten für den Test von Microchips

Unsere Kontaktstifte werden für In-Circuit und Funktionstest von Leiterplatten eingesetzt. Je nach Anwendung gibt es dafür unterschiedliche Anforderungen: Feine Stifte für feine Strukturen, optimierte Lösungen für die Kontaktierung bleifrei gelöteter Platinen oder einfach zuverlässige Standard-Stifte von höchster Qualität und Lebensdauer.

MEHR ÜBER KONTAKTSTIFTE

 

FEINMETALL Prüfkarten ermöglichen die Kontaktierung für den Test von Mikrochips, wie sie heute in allen elektrischen und elektronischen Produkten zu finden sind, von der Waschmaschine bis zur Motorsteuerung.

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